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                                                      服務熱線:13831157875

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                                                      植物冠層測量儀

                                                      植物冠層測量儀

                                                      型    號: FS-PAR
                                                      報    價: 17800
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                                                      FS-PAR植物冠層測量儀用于400nm-700nm波段內的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾(μmols㎡/秒)。

                                                      FS-PAR植物冠層測量儀的詳細資料:

                                                      FS-PAR植物冠層測量儀

                                                      ▲ 儀器菜單操作簡單,體積小,攜帶方便。

                                                      ▲ SD卡存儲容量大,數據管理方便。

                                                      儀器介紹

                                                      FS-PAR植物冠層測量儀可廣泛應用于農業生產和農業科研,為進行冠層光能資源調查,測量植物冠層中光線的攔截,研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關系,本儀器用于400nm-700nm波段內的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾(μmols㎡/秒)。由于作物冠層測量儀主要測量作物葉片對光線的攔截,所以該儀器適用于比較低矮的作物,樹木等其他較高的植物,推薦使用FS-2000植物冠層圖像分析儀。
                                                      技術參數
                                                      測量范圍:0-3000μmol ㎡/秒
                                                      分辨率:1μmol ㎡/秒
                                                      響應時間:10μs                                  
                                                      自動采集間隔:1-99分鐘
                                                      自動采集次數:1-99次
                                                      數據存儲容量:2GB(標配SD卡)
                                                      儀器總長度:75 cm
                                                      探桿長度:50 cm
                                                      傳感器數量:25個(標配)
                                                      電源:2節5號電池
                                                      工作環境:0°C-60°C;100%相對濕度
                                                      測量植物冠層的作用:
                                                      作物葉面積指數是描述作物冠層結構的一個重要參數,作物冠層直接影響著作物光合作用、蒸騰等關鍵生理過程,葉面積指數是許多作物生長模型、長勢評價模型、作物估產模型的重要參數。所以測量作物冠層具有重要的意義。

                                                      石家莊泛勝科技有限公司其他植物類產品:
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                                                      FS-2000植物冠層圖像分析儀
                                                      WinRHIZO根系分析儀
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                                                      YLS-A葉綠素測定儀
                                                      SPAD-2葉綠素儀
                                                      SPAD-502Plus葉綠素儀
                                                      SPAD-502DL Plus葉綠素儀
                                                      at LEAF CHL葉綠素儀
                                                      MC-100葉綠素濃度儀
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                                                      YHD-1 葉片厚度儀
                                                      YHD-2 數顯葉片厚度儀(分辨率0.01)
                                                      YHD-3 數顯葉片厚度儀(分辨率0.001)
                                                      FS-610B葉片溫度計
                                                      FS-612葉片溫度測量儀




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